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當前位置:首頁產品中心專用儀器儀表DP-WSP-51方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀

方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀

產品簡介

DP-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。

產品型號:DP-WSP-51
更新時間:2016-10-09
廠商性質:生產廠家
訪問量:1093

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方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀  型號:DP-WSP-51

DP-WSP-51數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻(簡稱方阻),換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。

本測試儀可贈設電池供電,適合手持式變動場合操作!

儀器所有參數設定、能轉換采用旋鈕輸入;具有零位、滿度自校能;自動轉換量程;測試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成,故定位準確、游移率小、壽命長;測試結果由數字表頭直接顯示。

三、基本參數

1. 測量范圍、分辨率

電    阻:     1.0×10-2 ~ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10  Ω

電 阻 率:     1.0×10-3~ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ~ 0.1  Ω-cm

方塊電阻:     1.0×10-3 ~ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可測半導體材料尺寸(手持式)

直        徑:  測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

長(或)度:  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

4) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重:≤0.5kg

 

 

 

2.

電阻表
 
 
 
商品名稱:數字式緣電阻測試儀/數字式兆歐表/兆歐表/緣電阻表
商品型號:DP-DY30-4
 

數字式緣電阻測試儀/數字式兆歐表/兆歐表/緣電阻表 DP-DY30-4

 

量程
基本度
額定作電壓
100/250/500/1000V
±(3.0%+5)
緣電阻測試范圍
0.001M~2000MΩ
±(3.0%+5)
交流電壓
-
自動量程
 
單位符號顯示
 
數據保持
 
低電阻蜂鳴顯示
 
電壓欠壓提示
 
電源
1.5V電池×6(UM3)
 
LCDzui大顯示
1999
 
LCD視窗尺寸
26×62mm
 
標準包裝尺寸
150×100×70mm
 
產品重量
約680克
 

 

 

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